詳細(xì)信息
久經(jīng)考驗(yàn)的技術(shù)和可靠性
智能設(shè)計(jì)特色
SediGraph III Plus 粒度分析儀*的設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易,日常維護(hù)更加簡(jiǎn)單。并且能夠確保對(duì)同一樣品,在任意一臺(tái)SediGrap h 儀器上都能獲得重復(fù)性*的結(jié)果。
? 高精度X 光管終身保修(7 年)
? 簡(jiǎn)化泵系統(tǒng),確保快速分析和易于維護(hù)
? 降低噪聲,提供更加安靜的工作環(huán)境
? 維護(hù)提醒裝置,根據(jù)總測(cè)試量,提示用戶進(jìn)
SediGraph III PLUS 5125 Particle Size Analyzer
全自動(dòng)X光沉降粒度分析儀
在過(guò)去的四十多年中,麥克公司的SediGraph 是眾多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無(wú)論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境中還是在實(shí)驗(yàn)室里,SediGraph 憑借其的性能,能夠獲得可靠精確的測(cè)量結(jié)果。該儀器采用X-光沉降法測(cè)量粒徑分布,通過(guò)檢測(cè)樣品對(duì)X射線的吸收直接測(cè)量顆粒質(zhì)量。SediGraph 根據(jù)斯托克斯定律,通過(guò)測(cè)量顆粒在已知性質(zhì)液體中的沉降速率,能夠得出粒徑范圍在0.1μm-300μm間樣品顆粒的等效球徑。
新一代的SediGraph III Plus 粒度分析儀結(jié)合了經(jīng)典的和改進(jìn)的顆粒分析技術(shù),能夠提供具備更高重復(fù)性和精確度的顆粒粒徑信息,并且進(jìn)一步加快了測(cè)試速度,在幾分鐘內(nèi)即可完成測(cè)試。