薄膜介質損耗因數測試儀
薄膜介質損耗因數測試儀
信號源范圍DDS數字合成信號 | 100KHZ-160MHz |
信號源頻率覆蓋比 | 16000:1 |
信號源頻率精度 6位有效數 | 3×10-5 ±1個字 |
采樣精度 | 12BIT 高精度的AD采樣,保證了Q值的穩(wěn)定性,以及低介質損耗材料測試時候的穩(wěn)定性 |
Q測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 |
Q分辨率 | 4位有效數,分辨率0.1 |
Q測量工作誤差 | <5% |
電感測量范圍 4位有效數,分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
電感測量誤差 | <3% |
調諧電容 | 主電容17-240pF (一體鍍銀成型,精度高) |
電容自動搜索 | 是(帶步進馬達) |
電容直接測量范圍 | 1pF~25nF |
調諧電容誤差 分辨率 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
諧振點搜索 | 自動掃描 |
Q合格預置范圍 | 5-1000聲光提示 |
Q量程切換 | 自動/手動 |
LCD顯示參數 | F,L,C,Q,Lt,Ct, tn, Σr |
自身殘余電感和測試引線電感的 | 有 |
大電容值直接測量顯示功能 | 測量值可達25nF |
介質損耗系數 | 精度 萬分之一 |
介電常數 | 精度 千分之一 |
材料測試厚度 | 0.1mm-10mm |
介電常數 | LCD直接顯示 |
介質損耗系數 | LCD直接顯示 |