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      上海精科|UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱上海品魁機電科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地上海市
      • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
      • 更新時間2022/4/27 12:31:25
      • 訪問次數(shù)208
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      上海品魁機電科技有限公司致力于實驗室設(shè)備的咨詢,銷售推廣,技術(shù)咨詢售后服務(wù)于一體的綜合供應(yīng)商,廣泛的采購貿(mào)易網(wǎng)絡(luò),以及良好的商業(yè)信譽,致力于*為國內(nèi)高校,科研院所及企業(yè)單位提供專業(yè)、優(yōu)質(zhì)、實用的實驗室儀器及相關(guān)技術(shù)服務(wù)。

        公司秉承誠信、共贏的核心價值觀。為科研,生產(chǎn)用戶提供高品質(zhì)的設(shè)備,技術(shù)服務(wù),不斷追求共同發(fā)展,向社會分享更多我們創(chuàng)造的價值。

        我們的優(yōu)勢:

        1.提供行業(yè)較早產(chǎn)品、較早技術(shù);

        2.提供Z有效的技術(shù)支持和服務(wù);

        3.提供Z全面的實驗室檢測設(shè)備。

      上海品魁機電科技有限公司咨詢熱線:15900517856    李先生

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      760CRT型雙光束紫外可見分光光度計是引進吸收日本島津公司*技術(shù)基礎(chǔ)上推出的自動記錄分光光度計
      上海精科|UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計 產(chǎn)品信息

      760CRT型雙光束紫外可見分光光度計是引進吸收日本島津公司*技術(shù)基礎(chǔ)上推出的自動記錄分光光度計,軟件基于Windows98平臺,界面友好、美觀,操作簡單,通過打印機可打印出圖文合一的分析報告,并可將圖譜數(shù)據(jù)或測試數(shù)據(jù)傳送Execl進行處理,可將圖譜貼至Word中發(fā)表,儀器具有波長掃描、時間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能,優(yōu)異的性能,適合用于生物化學(xué)、環(huán)境保護、化學(xué)工業(yè)等實驗室的日常分析和研究工作的需要。


      主要特點:
      ● 采用全息閃耀光柵,雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu),高分辨率,低雜散光,測光精度高,穩(wěn)定性能好。
      ● 微機控制,自動記錄,打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
      ● 光源自動轉(zhuǎn)換(可在294nm~364nm間任意設(shè)定)
      ● 功能的光譜處理能力.


      軟件特點:
      ● 信息存貯容量大,保存方便。
      ● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜,可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描,透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換,對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導(dǎo)數(shù)運算。
      ● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
      ● 時間掃描可進行動力學(xué)研究。
      ● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定,3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。
      ● 軟件提供了定波長和多波長測試,并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋,對同一樣品多用戶的測試提供了方便,多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。
      ● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當(dāng)前測試條件。
      ● 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。


      技術(shù)指標(biāo):
      ● 測光方式:雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu),全息閃耀光柵分光器,光電倍增管檢測。
      ● 波長范圍:190nm~900nm
      ● 分辯率:優(yōu)于0.15nm
      ● 光譜帶寬:0.08nm~5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)
      ● 波長允許誤差:±0.3nm(內(nèi)裝自動波長校正裝置)
      ● 波長重復(fù)性:0.2nm
      ● 雜散光:≤0.08%(T)(以NaI溶液在220nm處)
      ● 透射比允許誤差:±0.3%τ(以NBS930D測定)
      ● 透射比重復(fù)性:0.2%(T)
      ● 掃描速度:快、中、慢
      ● 穩(wěn)定性:≤±0.004A/30min
      ● 噪聲:±0.3%(99%處) ±0.1%(0%處)
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