薄膜測厚儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度,根據(jù)測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務(wù)需求。低測力可達(dá)0.06N,高分辨率0.01μm。
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薄膜測厚儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度,根據(jù)測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務(wù)需求。低測力可達(dá)0.06N,高分辨率0.01μm。
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